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型號:TDC-BT2000
智能軸承故障測試儀

描述:TDC-BT2000智能軸承故障測試儀兼有軸承故障測試儀(沖擊脈沖儀)和振動測量儀的功能。

  • 廠商性質(zhì)

    其他
  • 更新時間

    2024-09-18
  • 訪問量

    1199
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智能軸承故障測試儀/軸承故障測試儀/軸承故障檢測儀 型號:TDC-BT2000

 

TDC-BT2000智能軸承故障測試儀兼有軸承故障測試儀(沖擊脈沖儀)和振動測量儀的功能。該儀器用來檢測旋轉(zhuǎn)類機械的運動狀況,從而探測出機械故障并為有效的預防性檢修提供數(shù)據(jù)??蓮V泛應用于航空航天,冶金、化工、輕工、船舶制造等領(lǐng)域。
利用TDC-BT2000,設(shè)備維護人員可檢測機器機械的所有顯著特性:

定量檢測滾動軸承損傷程度和潤滑程度

機器總體狀況(結(jié)構(gòu)松動,不對中和不平衡)

 

TDC-BT2000只需少量的數(shù)據(jù)輸入,就可提供軸承運行狀況的描述。可直接用良好(綠),警告(黃),壞(紅)顯示軸承的運轉(zhuǎn)狀況??捎梅逯底x數(shù)和耳機模式對軸承狀況作進一步的評估。
內(nèi)置ISO 2372振動標準,可直接顯示機器振動的情況(即:良好,警告,壞)。

技術(shù)參數(shù):

測 量 范 圍

沖擊脈沖值(SPM)

-9--99dBsv

振 動 值(VIB)

0.2--99.9mm/s RMS

分 辨 率

沖擊脈沖值(SPM)

1dBsv

振 動 值(VIB)

0.1mm/s RMS

精    度

沖擊脈沖值(SPM)

±2dBsv

振 動 值(VIB)

±(0.1mm/s±2%讀數(shù))

溫 度 范 圍

0°C--50°C

電    源

6 x 1.5V LR6堿性電池或可充電電池

產(chǎn)品名稱:數(shù)字式四探針測試儀 數(shù)字式四探針檢測儀
產(chǎn)品型號:SZT-2000

數(shù)字式四探針測試儀 數(shù)字式四探針檢測儀 型號:SZT-2000 
SZT-2000A型數(shù)字式四探針測試儀是根據(jù)四探針測試原理研究成功的多用途的綜合測量裝置,它可以測量棒狀、塊狀 
半導體材料的電阻率和半導體擴散層的薄層電阻進行測量,可以從10-6--105Ω—cm全量程范圍檢測硅的片狀、棒狀材料的電阻、薄層電阻,是硅材料質(zhì)量監(jiān)測的必需儀器。 
儀器為臺式結(jié)構(gòu),分為電氣箱、測試架兩大部分,用戶可以根據(jù)測試需要安放在一般工作臺或者工作臺上,測試架由探頭及壓力傳動機構(gòu)、樣品架組成,耐磨和使用壽命長的特點。探頭內(nèi)設(shè)有彈簧壓力裝置,壓力從0—2Kg連續(xù)可調(diào),測試架設(shè)有手動和電動兩種裝置供用戶選購。 
儀器電氣箱主要由高靈敏的直流數(shù)字電壓表和高穩(wěn)定的恒流源組成,測量結(jié)果由數(shù)字直接顯示,儀器有自校量程,可以方便地對儀器的電氣性能進行校驗。 
儀器具有測量精度高、靈敏度高、穩(wěn)定性好、測量范圍廣、結(jié)構(gòu)緊湊、使用方便等特點,儀器適用于半導體材料廠、器件廠、科學研究部門、高等院校,對半導體材料的電阻性能測試及工藝檢測。 
儀器主要技術(shù)指標: 
1.  范圍:電阻率10-4—103Ω—cm,可擴展至105Ω—cm,分辯率為10-6Ω—cm 
         方塊電阻10-3—103Ω /□ 
         電阻10-6—105Ω 
2.  可測半導體尺寸:直徑Φ15—150mm 
3.  測量方式:軸向、斷面均可(手動測試架) 
4.  數(shù)字電壓表(1)量程0.2mV、2mV、20mV、200mV、2V  
  (2)測量誤差 0.2mV檔±(0.3%讀數(shù)+8字) 
              2 mV檔以上±(0.3%讀數(shù)+2字) 
  (3)輸入阻抗0.2mV、2mV擋105Ω 
              20mV檔以上>108Ω 
  (4)顯示3 1/2位數(shù)字顯示,0—1999 
具有性和過載自動顯示,小數(shù)點、單位自動顯示 
5.  恒流源:(1)電流輸出:直流電流0—100mA連續(xù)可調(diào),由交流電源供給 
   (2)量程:10μA、100μA、1mA、10mA、100mA 五檔 
   (3)電流誤差:±(0.3%讀數(shù)+2字) 
6.四探針測試探頭  (1)探頭間距:1mm   (2)探針機械游率:±0.3%  
                   (3) 探針:Φ0.5mm    (4)壓力:可調(diào) 
  7. 測試架: 
  (1)手動測試架:探頭上升及下降由手動操作,可以用作軸向和斷面的單晶棒和硅片測試。 
  (2)電動測試架:探頭的上升和下降由電動操作,設(shè)有自動控制器控制,探頭上升時間1S—99S可調(diào),探頭下降時間1S—99S可調(diào),壓力恒定可調(diào)(由砝碼來設(shè)定)同時設(shè)有腳踏控制裝置由腳踏開關(guān)控制探頭上下運動。 
   8.電流:220V±10% 50HZ或60HZ:功率消耗<35W 
9.    外形尺寸:電氣箱130×110×400mm 

 

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